濱州銷售薄膜測厚儀

測量原理
使用兩個激光傳感器安裝在被測物（紙張）上下方，將傳感器固定在穩定的支架上，確保兩個傳感器的激光能對在同一點上。隨著被測物的傳感器就開始對其表面進行采樣，分別測量出目標上下表面分別與上下成對的激光位移傳感器距離，測量值通過串口傳輸到計算機，再通過我們在計算機上的測厚軟件進行處理，得到目標的厚度值。
非接觸式薄膜測厚儀的出現，大大提高了紙張等片材厚度測量的精度，尤其是在自動化生產線上，得到廣泛應用。

（1）采用進口優質傳感器，測厚分辨率高達0.1微米選用優質傳動元件，確保了試驗結果的穩定性與準確性。
（2）大液晶屏顯示，操作簡便，配備微型打印機直接打印試驗報告。
（3）另外具有電腦通信接口，通過選購軟件實現數據的*性存儲、查詢、打印；軟件功能強大，可將成組試驗數據用柱形圖或列表方式進行統計，試結報告可直接在局域網或廣域網中進行傳輸
技術特征
嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標定制
測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統誤差
支持自動和手動兩種測量模式，方便用戶自由選擇
實時顯示測量結果的大值、小值、平均值以及標準偏差等分析數據，方便用戶進行判斷
配置標準量塊用于系統標定，保證測試的精度和數據一致性
系統支持數據實時顯示、自動統計、打印等許多實用功能，方便快捷地獲取測試結果
系統由微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板，方便用戶進行試驗操作和數據查看
標準的RS232接口，便于系統的外部連接和數據傳輸
支持Lystem?實驗室數據共享系統，統一管理試驗結果和試驗報告
薄膜測厚儀根據其測量方式的不同，可分為：
接觸式薄膜測厚儀：點接觸式，面接觸式。
非接觸式薄膜測厚儀：射線，渦流，超聲波，紅外等
注：我們所能見到的包裝材料實驗室厚度測試的標準，包括標淮，**、美國、日本、歐洲標準等均*采用機械式測厚中的面接觸測厚的方式，同時該方法也被作為薄膜，鋁箔，紙張等材料的仲裁方法。
應用范圍
采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。專業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
執行標準
ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D645、 ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 DIN 53105、 DIN 53353、 JIS K6250、 JIS K6328、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
儀器配置
標準配置：主機、微型打印機、標準量塊一件
選購件：專業軟件、通信電纜、配重砝碼盤、配重砝碼
非接觸式設備
英國公司研發出的非接觸式測量方法測厚儀，可以實現對薄膜的非接觸式測量，避免對紙張造成形變引起誤差。
技術指標
負荷量程：0～2mm（常規）；0～6mm；12mm（可選）
分辨率：0.1μm
測量速度：10 次/min （可調）
測試壓力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（紙張）
接觸面積：50 mm2（薄膜）；200 mm2（紙張）
注：薄膜、紙張任選一種；非標可定制
電源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：300mm(L)×275mm(W)×300mm(H)
凈重：33kg
薄膜測厚儀，又稱為測厚儀、薄膜厚度檢測儀、薄膜厚度儀等，薄膜測厚儀專業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
（1）測量范圍為0～2mm(常規)(0～6mm可選)；
（2）自動走樣，液晶顯示(包含配套軟件)；
（3）測量速度為(可調)；
（4）測量壓力為17.5±1kPa(薄膜)。
測量注意事項：
⒈在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。
⒉測量時側頭與試樣表面保持垂直。
⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
⒌測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。
⒍測量時要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數。
⒏在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進行對側頭清除附著物質。