儀器配置
標準配置:主機、微型打印機、標準量塊一件
選購件:專業軟件、通信電纜、配重砝碼盤、配重砝碼
非接觸式設備
英國公司研發出的非接觸式測量方法測厚儀,可以實現對薄膜的非接觸式測量,避免對紙張造成形變引起誤差。
技術指標
負荷量程:0~2mm(常規);0~6mm;12mm(可選)
分辨率:0.1μm
測量速度:10 次/min (可調)
測試壓力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(紙張)
接觸面積:50 mm2(薄膜);200 mm2(紙張)
注:薄膜、紙張任選一種;非標可定制
電源:AC 220V 50Hz
外形尺寸:300mm(L)×275mm(W)×300mm(H)
凈重:33kg
應用范圍
采用機械接觸式測量方式,嚴格符合標準要求,有效保證了測試的規范性和準確性。專業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
執行標準
ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D645、 ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 DIN 53105、 DIN 53353、 JIS K6250、 JIS K6328、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
測量注意事項:
⒈在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。
⒉測量時側頭與試樣表面保持垂直。
⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
⒌測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場,如果會將會干擾磁性測厚法。
⒍測量時要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量,因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時要保持壓力的恒定,否則會影響測量的讀數。
⒏在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸,因此超聲波測厚儀在進行對側頭清除附著物質。
測量原理
使用兩個激光傳感器安裝在被測物(紙張)上下方,將傳感器固定在穩定的支架上,確保兩個傳感器的激光能對在同一點上。隨著被測物的傳感器就開始對其表面進行采樣,分別測量出目標上下表面分別與上下成對的激光位移傳感器距離,測量值通過串口傳輸到計算機,再通過我們在計算機上的測厚軟件進行處理,得到目標的厚度值。
非接觸式薄膜測厚儀的出現,大大提高了紙張等片材厚度測量的精度,尤其是在自動化生產線上,得到廣泛應用。